IC卡片翹曲度測(cè)試儀該夾具采用的是固定間距的重力滑落斜面設(shè)計(jì)，用于測(cè)量卡片彎曲度。確的一個(gè)間距可以迅速的檢查出不帶凸碼卡片的彎曲度是否超過(guò)1.5mm。夾具中的另外一個(gè)間距可以測(cè)試卡片彎曲度是否超過(guò)1.3mm面板采用航空級(jí)別的6061鋁合金材質(zhì)制作而成，表面采用抗磨損涂層，經(jīng)久耐用。

· IC卡片翹曲度測(cè)試儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考：ISO7810和10373-1

· CQM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考:P-09

· 測(cè)試方法參考：CQM10.3.9, CQM 5.1.9, 6.1.6, 6.1.3, 和 16.1.1.9

卡片彎曲試驗(yàn)裝置中的彎曲結(jié)構(gòu)、驅(qū)力裝置和導(dǎo)向裝置進(jìn)行了改型設(shè)計(jì)。改型后的裝置采用壓塊壓緊的方式,氣缸驅(qū)動(dòng),采用了THK直線(xiàn)滑軌,運(yùn)動(dòng)精度提高。改型后的試驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,試驗(yàn)精度提高,同時(shí)降低了操作人員的勞動(dòng)強(qiáng)度,工作效率提高,經(jīng)濟(jì)效益好。