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IC卡扭曲測試儀

更新時間:2025-03-31

簡要描述:

IC卡扭曲測試儀?用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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IC卡扭曲測試儀主要用于RFID電子標簽抗扭曲性能的檢測和少量電子標簽抗彎曲應力性能的檢測。

IC卡扭曲測試儀主要技術參數(shù)要求:

1)扭曲度: ±15°±1° 雙向d=86 mm,正反向各15°,總扭曲角度30°

2)長邊大位移量:70mm(±1 mm)

3)長邊小位移量:40.375mm±0.50mm

4)短邊大位移量:30mm(±1 mm)

5)短邊小位移量:23.3mm(±1 mm)

6)支持標準:   Q/GDW 1893-2013

7)測試速度:   30r/min,0.5Hz

8)測試周期:   1~9999次

用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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