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IC芯片卡動態彎曲測試機產品用途
  • 發布日期:2023-11-28      瀏覽次數:613
    • IC芯片卡動態彎曲測試機產品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,柔性電子標簽等卡的彎曲和扭曲性能測試。

      IC芯片卡動態彎曲測試機本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標準。


      IC芯片卡動態彎曲測試機技 術 參 數

      1. 型號:MX-IC

      2. 扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

      3. 正反向各15°,總扭曲角度30°

      4.測試周期:1~9999次

      5.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

      6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

      7.長邊小位移量為2mm±0.50mm

      8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

      9.長邊小位移量為1mm±0.50mm

      10.電 壓:AC220V±5%

      11.外形尺寸:L670 X W380 X H220

      12.功 率:35W

      13.儀器重量:70kg

      標準雙向扭轉:

      長邊彎曲工位數:5工位

      短邊彎曲工位數:5工位

      雙向扭轉工位數:5工位


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