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芯片卡三輪往復循環測試儀制做的依據標準是什么
  • 發布日期:2019-11-08      瀏覽次數:882
    • 芯片卡三輪往復循環測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試,適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環測試,將芯片卡放在機器測試滾輪之間,將芯片在三個鋼制滾輪間循環測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環頻率為0.5Hz,并在芯片上加一個8N的力,經過往復循環測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準推薦的測試。

       

      三輪滾壓測試儀主要技術參數:

      1.型號:MX-SL

      2.測試輪循環次數:前后循環各50

      3.測試標準參考: Mcd

      4.CQM測試標準參考: P-22

      5.測試方法參考: 10.3.22

      6.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2

      7.電源: 110-220 V 50/60 Hz.

      8.執行標準:GB/T 17554. 3-2006

       

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